信頼性試験とは
昨今の電子機器のモバイル化や機械制御の電子化に伴い、さまざまな環境で電子機器が使用されるようになりました。
このため、製品にはより耐久性を求められる時代となり、市場での不具合発生を未然に防ぐため、あらゆる面での製品の耐久性を確認することが重要となります。
当社ではお客様のプラン通りはもちろん、そのほかに製品の特性を考慮した内容の試験メニュー提案も行っております。
お客様のメリット
- 検証作業によって発見された不具合はタイムリーに開発部門へフィードバックすることが可能となり、次期開発商品への対応が早い段階で取れることになります。
- 加速試験を行うことにより、出荷前に故障率などを試算することが可能となります。
試験メニュー
環境試験
温度や湿度といった環境の変化により、製品に不具合が発生しないかどうかを検証します。
電気的試験
電気的な障害を加えることにより、製品に不具合が発生しないかどうかを検証します。
安全性試験
温度を上昇させたり、ショートさせたるすることによって、製品の安全性に問題が生じないかを検証します。
機械的試験
製品を振動・落下させて脆弱な部分がないかを検証します。
負荷試験
圧力や摩擦を加えて設計強度を検証します。
主要設備
信頼性試験
環境試験
温度特性試験
任意の温湿度に設定した恒温槽内で製品を動作させ、環境温度の変化による不具合が発生しないかを検証いたします。
低温・高温保管試験
低温・高温状態に長時間保管した際に電気的および機械的な不具合が発生しないかを検証いたします。
温湿度サイクル試験
温湿度の変化サイクルを設定し、試験後に電気的および機械的な不具合が発生しないかを検証いたします。電気的試験
静電耐圧試験
任意の場所に静電気を印加し、誤作動および部品破壊などの不具合が発生しないかを検証いたします。
電源ラインノイズ試験（バースト試験）
電源ライン上にバーストノイズを印加し、誤作動および部品破壊などの不具合が発生しないかを検証いたします。
過電圧試験
定格電圧以上の電圧を印加することにより、誤作動および部品破壊などの不具合が発生しないかを検証いたします。
安全性試験
温度上昇試験（内部・外部）
製品に最大電圧をかけた際の温度上昇を確認し異常加熱などの不具合が発生していないかを検証いたします。
オープンショート試験
基板上の部品を故意にオープンまたはショートさせ、異常加熱などの不具合が発生しないかを検証いたします。
オーバーヒート試験
環境温度を変化させた際に、部品の温度プロテクトが正常に動作し、異常加熱などの不具合が発生しないかを検証いたします。
機械的試験
落下試験
さまざまな条件で製品を落下させ、基板上の部品欠落、コンデンサクラックの有無などを検証いたします。
振動試験
さまざまな条件で製品を振動させ、基板上の部品欠落、コンデンサクラックの有無などを検証いたします。
負荷試験
加圧試験
製品を任意の荷重で加圧し、部品の設計強度および部品配置が適切かを検証いたします。精密荷重測定器、トルク角度測定器を導入しております。
＜精密荷重測定器＞
携帯電話、PHS、IPフォンに対して、加圧試験、3点曲げ試験を行います。折りたたみ、ストレート型、どちらも検証可能です。
＜トルク角度測定器＞
携帯電話･PHS･IPフォンや、組込型基盤･小型電子手帳に対してひねり試験を行います。
開閉試験
製品を開閉し、ヒンジの耐久性が適切かを検証いたします。
その他
車載電子機器の信頼性
車載電子機器の信頼性
温度試験、振動試験、EMC試験、これらの複合試験が可能となります。お気軽にご連絡ください。
